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更新時(shí)間：2023-09-04 
瀏覽次數(shù)：509只需將樣品插入探頭之間即可測(cè)量的簡單測(cè)量儀器
在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換
通過 JOG 旋鈕進(jìn)行簡單的測(cè)量條件設(shè)置
半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）
化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
約 8 英寸或約 156 x 156 毫米
[電阻率] 1m 至 200Ω cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度 500um）
[表面電阻] 10m 至 3kΩ/sq
（*所有探頭類型的總范圍）
W220×D325×H210mm
約6.5kg
1點(diǎn)1點(diǎn)測(cè)量 非接觸式非接觸式
操作指南：通過 JOG 旋鈕進(jìn)行簡單的測(cè)量條件設(shè)置
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