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更新時間：2024-04-13 
瀏覽次數(shù)：395F10-ARc
走在前端 以較低的價格
現(xiàn)在可以很容易地測量曲面樣品，包括眼鏡和其他光學(xué)鏡片的防反射涂層, 僅需其他設(shè)備一小部分的的價格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴格的訓(xùn)練, 您甚至可以直覺的藉由設(shè)定任何波長范圍大, 最小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標準.
容易設(shè)定. 易於維護.
只需將F10-ARc插上到您計算機的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc 幾乎不存在停機時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準，你不需擔(dān)心維護問題。
獲得的測量.
自動基準功能大大增加基準間隔時間, 量測準確性優(yōu)於其他光纖探頭反射測量系統(tǒng)5倍
可選擇UPG - F10-AR - HC軟件升級 測量0.25-15μm硬涂層的厚度. 即使在防反射涂層存在時仍可測量硬涂層厚度
我們探頭設(shè)計可排除98％背面反射,當(dāng)鏡片比1.5mm 更厚時, 可排除比例更高
修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現(xiàn)象
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